Šveicarija – Mikroskopai su skenuojančiais zondais – Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy

Šveicarija – Mikroskopai su skenuojančiais zondais – Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Empa zentraler Einkauf
Adresas: Überlandstrasse 129
Miestas: Dübendorf
Pašto kodas: 8600
Šalis: Šveicarija
Asmuo ryšiams:
El-paštas: wto@empa.ch
Interneto adresas (-ai):
Pagrindinis adresas:

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Low-temperature scanning probe microscope for in-operando device nanoscopy

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38514200 Mikroskopai su skenuojančiais zondais

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

The subject of this tender is a low-temperature (<3K), ultrahigh vacuum (UHV) scanning probe microscopy system with optical access to the scanned sample to pinpoint device structures in the sub-micrometer range to be investigated on the atomic level. The system provides state-of-the-art scanning tunneling microscopy (STM), spectroscopy (STS) and tuning fork based noncontact atomic force microscopy (nc-AFM), including UHV preparation chamber and load lock.

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38514200 Mikroskopai su skenuojančiais zondais