Suomija – Elektroniniai mikroskopai – Scanning Electron Microscope

Ted skelbimo peržiūra

Suomija – Elektroniniai mikroskopai – Scanning Electron Microscope

I dalis: Perkančioji organizacija

I.1) Pavadinimas ir adresai:

Oficialus pavadinimas: Itä-Suomen yliopisto

Adresas: Yliopistonranta 1

Miestas: Kuopio

Pašto kodas: 70210

Šalis: Suomija

Asmuo ryšiams:

El-paštas: hankinnat@uef.fi

Interneto adresas (-ai):

Pagrindinis adresas: https://www.uef.fi/

II dalis: Objektas

II.1.1) Pavadinimas:

Scanning Electron Microscope

Nuorodos numeris: 402/02.07.02/2025

II.1.2) Pagrindinis BVPŽ kodas:

38511000 Elektroniniai mikroskopai

II.1.3) Sutarties tipas:

Kita

II.1.4) Trumpas aprašymas:

Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.

II.2) Aprašymas:

II.2.1) Kitas (-i) šio pirkimo BVPŽ kodas (-ai):

38511000 Elektroniniai mikroskopai

Daugiau informacijos apie šį skelbimą rasite spustelėje NUORODĄ